電磁干擾智能檢測儀

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  • 背景:隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,以電子產(chǎn)品對外輻射干擾(EMI)為重,鐵路、電力等行業(yè)已明確提出技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)并要求強(qiáng)制執(zhí)行。
    用途:用于電子產(chǎn)品、重要器件的EMI干擾分析??煽焖?、準(zhǔn)確定位干擾源和輻射路徑;分析強(qiáng)度分布;問題產(chǎn)品改進(jìn)前后對比分析。
    目的:此設(shè)備有效提供EMI量化分析的實(shí)用手段,是產(chǎn)品研發(fā)中分析、改進(jìn)、達(dá)標(biāo) 、品質(zhì)的有力保障工具,極大提高了開發(fā)效率。

    測量對象

    設(shè)備表面,PCB電路板,集成電路,模塊,元件

    測量方式

    使用三軸移位臺(tái)進(jìn)行電磁掃描

    測量種類

    定點(diǎn)寬頻掃描、定頻平面掃描

    頻率范圍

    9k3.2GHz(可擴(kuò)展)

    測量范圍

    400×400mm(可擴(kuò)展),  ±90

    動(dòng)作步距

    0.1mm

    控制接口

    USB接口

    電源

    AC220V

    外形尺寸

    500×500mm

    重量

    15kg


     

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    核心功能


    1、寬頻掃描------粗掃描;識(shí)別產(chǎn)品EMI問題頻率
    設(shè)定掃描區(qū)域與頻率范圍(9k~3.2GHz可自定義)進(jìn)行初步的寬頻率范圍掃描,并記錄各頻率的幅值,參考被測產(chǎn)品的現(xiàn)場使用標(biāo)準(zhǔn),識(shí)別出EMI問題頻率。
    2、單頻掃描成像----細(xì)掃描;定位干擾源及分析輻射情況
    設(shè)定中心頻率到問題頻率附近,對被測產(chǎn)品進(jìn)行細(xì)粒度移動(dòng)(如1mm移動(dòng)步距)的平面掃描,記錄問題頻率下的幅值,并將測量結(jié)果繪制成色溫圖,精確定位干擾源和分析輻射強(qiáng)度和范圍。


    應(yīng)用場景


    1、產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段可對PCB原型板的EMI性能進(jìn)行評估。在設(shè)計(jì)過程中及早識(shí)別EMI問題,有針對性地采取抑制措施,優(yōu)化設(shè)計(jì)。能夠有效減少成本,縮短研發(fā)周期。
    2、產(chǎn)品審核階段對PCB產(chǎn)品進(jìn)行抽樣測試,以確保維持產(chǎn)品一致性。
    3、幫助解決已有產(chǎn)品存在的EMI問題。幫助工程師快速定位問題和分析影響范圍,提高工作效率。

    推薦產(chǎn)品

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